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Research of Single-Event Burnout in P-NiO/n-Ga2O3 Heterojunction Diode 相关领域
异质结
材料科学
非阻塞I/O
光电子学
二极管
倦怠
事件(粒子物理)
电子工程
电气工程
工程物理
物理
工程类
化学
量子力学
经典力学
生物化学
催化作用
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期刊:IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者:Chenghao Yu; Hui Yang; Wen‐Sheng Zhao; Da‐Wei Wang; Haomin Guo; et al 出版日期:2024-09-09 |
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