Cost-Effective Analytical Models of Resistive Opens Defects in FinFET Technology

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标题	Cost-Effective Analytical Models of Resistive Opens Defects in FinFET Technology FinFET技术中电阻开路缺陷的成本有效分析模型相关领域电阻式触摸屏纳米技术计算机科学材料科学工程物理光电子学电气工程工程类
网址	https://doi.org/10.1109/tvlsi.2024.3479068
DOI	10.1109/tvlsi.2024.3479068 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 作者：Gustavo Aguirre; Freddy Forero; Victor Champac; M. Renovell; F. Azaı̈s; et al 出版日期：2024-11-11
求助人	小Q 在 2025-12-09 17:28:40 发布自四川，悬赏 10 积分
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