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Impurity Gettering in Polycrystalline‐Silicon Based Passivating Contacts—The Role of Oxide Stoichiometry and Pinholes |
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期刊:Advanced Energy Materials 作者:Zhongshu Yang; J. Krügener; F. Feldmann; J. Polzin; B. Steinhauser; et al 出版日期:2022-05-01 |
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(2025-6-4)