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Effects of Forming Gas Annealing and Channel Dimensions on the Electrical Characteristics of FeFETs and CMOS Inverter |
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期刊:IEEE Journal of the Electron Devices Society 作者:Po-Jung Sung; Chun-Jung Su; Shih-Hsuan Lo; Fu-Kuo Hsueh; Darsen D. Lu; et al 出版日期:2020-04-11 |
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