| 标题 |
Atomic-scale STEM characterization of Li-ion battery materials using orientation-controlled single-crystalline specimens |
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| DOI |
10.1093/jmicro/dfag034
doi
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| 其它 |
期刊:Microscopy 作者:Kei Nakayama 出版日期:2026-09-25 |
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(2025-6-4)