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Identifying the Real Minority Carrier Lifetime in Nonideal Semiconductors: A Case Study of Kesterite Materials 确定非理想半导体中的实际少数载流子寿命:以Kesterite材料为例
相关领域
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期刊:Advanced Energy Materials 作者:Charles J. Hages; Alex Redinger; S. Levcenko; Hannes Hempel; Mark J. Koeper; et al 出版日期:2017-05-23 |
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