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Remote Scavenging Technology Using Ti/TiN Capping Layer Interposed in a Metal/High-k Gate Stack
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网址
https://doi.org/10.1149/05004.0285ecst
DOI
10.1149/05004.0285ecst doi
其它 期刊：ECS Transactions
作者：Xueli Ma; Xiaolei Wang; Kai Han; Wenwu Wang; Hong Yang; et al
出版日期：2013-03-15
求助人
Mr_龙在天涯 在 2025-10-10 11:33:37 发布自广东，悬赏 10 积分
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