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Electrical and structural comparison of (100) and (002) oriented AlN thin films deposited by RF magnetron sputtering 射频磁控溅射沉积(100)和(002)取向AlN薄膜的电学和结构比较
相关领域
材料科学
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氮化铝
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期刊:Journal of Materials Science Materials in Electronics 作者:Anis Suhaili Bakri; N. Nafarizal; Ahmad Shuhaimi Abu Bakar; Megat Muhammad Ikhsan Megat Hasnan; Nur Amaliyana Raship; et al 出版日期:2022-04-19 |
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