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Effects of SiO2∕Si3N4 hard masks on etching properties of metal gates SiO2/Si3N4硬掩模对金属栅极刻蚀性能的影响
相关领域
锡
蚀刻(微加工)
材料科学
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena 作者:Wan Sik Hwang; Byung-Jin Cho; D.S.H. Chan; Vladimir Bliznetsov; Won Jong Yoo 出版日期:2006-11-01 |
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