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Characterization of Twist and Tilt Misalignments in the Direct WaferBonding Process: A Case Study of LiNbO3 on Oxidized Si |
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期刊:Langmuir 作者:Zheng B, Chen X, Zhang J, Qin X, Liu J, Xiao K, Yang A, Tan B, Shen A 出版日期:2026-09-01 |
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(2025-6-4)