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 Impact of EP-CG Interlayer Dielectric on Performance of L-Shaped Split-Gate Flash Memory 相关领域
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期刊：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者：Wanyi Ling; Kun Ren; Dianyu Qi; Yongyu Wu; Guangji Li; et al 出版日期：2026-01-12 |
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