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 Influence of Temperature and Gate Bias on the Atmospheric Neutron-Induced SEB Effect in Double-Trench SiC MOSFETs 相关领域
材料科学
光电子学
散裂
碳化硅
瞬态（计算机编程）
MOSFET
晶体管
偏压
温度测量
热的
散裂中子源
电压
场效应晶体管
负偏压温度不稳定性
辐照
电场
阈值电压
栅氧化层
宽禁带半导体
电流（流体）
深能级瞬态光谱
凝聚态物理
砷化镓
辐射
排水诱导屏障降低
撞击电离
金属浇口
雪崩击穿
辐射硬化
频道（广播）
电离
硅
缩放比例
电子工程
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期刊：IEEE Transactions on Nuclear Science 作者：WenLu Zhu; Chao Peng; Hongxia Guo; Wuying Ma; Xiangli Zhong; et al 出版日期：2026-01-23 |
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