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 Quantifying Junction/Edge Defect Density of Crystalline Silicon Solar Cells Enabled by Depth‐Resolved Transient Photovoltage Decay 相关领域
材料科学
晶体硅
表面光电压
光电子学
载流子寿命
非晶硅
重组
钝化
硅
光伏系统
太阳能电池
聚合物太阳能电池
异质结
自发辐射
载流子
深能级瞬态光谱
光电导性
瞬态（计算机编程）
扩散
超快激光光谱学
激发
波长
量子隧道
光谱学
分子物理学
无定形固体
单晶硅
纳米晶硅
时间常数
俄歇效应
氧化物
光伏
等离子太阳电池
耗尽区
氧化硅
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期刊：Small 作者：Zhizhang Xiang; Chufang Xing; Lei Xu; Tianyu Lan; Yuxing Wang; et al 出版日期：2026-05-21 |
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