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 Electrical study of ZnO film thickness effect on the evolution of interface potential barrier of ZnO/p-Si heterojunction: Contribution to transport phenomena study ZnO薄膜厚度对ZnO/p-Si异质结界面势垒演化影响的电学研究：对输运现象研究的贡献
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期刊：Materials Science in Semiconductor Processing 作者：L. Chabane; N. Zebbar; M. Trari; Y.H. Seba; M. Kechouane 出版日期：2021-06-04 |
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