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Surface Analysis for Selective SiO2 Etching by Reflectance Photoelastic Modulated Fourier Transform Infrared Spectroscopy 反射光弹调制傅里叶变换红外光谱对SiO2选择性蚀刻的表面分析
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Hyun-Ho Doh; Changwoong Chu; Kyeong-Koo Chi; Joo-Tae Moon 出版日期:2001-10-01 |
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