| 标题 |
 XPS investigation of diffusion of two-layer ZrO2/SiO2 and SiO2/ZrO2 sol–gel films 相关领域
X射线光电子能谱
材料科学
图层（电子）
扩散
微观结构
原子力显微镜
溶胶凝胶
薄膜
分析化学（期刊）
椭圆偏振法
化学工程
纳米技术
复合材料
化学
色谱法
热力学
物理
工程类
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Optik 作者：Yang Guo; X.T. Zu; B.Y. Wang; Xiaodong Jiang; X.D. Yuan; et al 出版日期：2008-08-13 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
贪玩的秋柔
GingerF
辛勤冬天
zhangwenkang
干净的琦
LiuZfosu
HFH
东方元语
陈蒙医生
99
Dsivan
YifanWang
工藤
沉默含烟
无极微光
OK
jshmech
Jerry
初景
Kelley
皖公网安备34019202002308
