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 Insight into the Impact of Electron Drift Trajectory on Charge Collection in Silicon Drift Detector 洞察硅漂移探测器中电子漂移轨迹对电荷收集的影响
相关领域
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期刊：ECS Journal of Solid State Science and Technology 作者：Rongrong Guo; Yujia Peng; Huixiang Huang; Chih-Ching Chen; Tsung‐Yi Chen 出版日期：2024-08-27 |
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JPL3729
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2025-08-30 12:50:52 发布，悬赏 10 积分
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