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New Approach for Pulsed-Laser Testing That Mimics Heavy-Ion Charge Deposition Profiles |
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期刊:IEEE Transactions on Nuclear Science 作者:Joel M. Hales; John D. Cressler; Dale McMorrow; Ani Khachatrian; Stephen Buchner; et al 出版日期:2019-10-31 |
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(2025-6-4)