| 标题 |
Reducing Coercive Field and Improving Endurance in Ferroelectric Epitaxial Hf 0.5 Zr 0.5 O 2 Thin Films via Novel Interface Layer Approach 相关领域
铁电性
材料科学
矫顽力
光电子学
X射线光电子能谱
兴奋剂
薄膜
外延
图层(电子)
微晶
氧化物
多铁性
铪
非易失性存储器
领域(数学)
离子键合
锡
电子工程
纳米技术
切换时间
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Advanced Science 作者:Ji-Soo Kim; Benedetta Gaggio; Babak Bakhit; Veniero Lenzi; Luis Marques; et al 出版日期:2025-11-14 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)