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Imaging Negative Charge around Single Vanadium Dopant Atoms in Monolayer Tungsten Diselenide Using 4D Scanning Transmission Electron Microscopy 相关领域
二硒化钨
材料科学
透射电子显微镜
掺杂剂
单层
扫描透射电子显微镜
钒
能量过滤透射电子显微镜
二硒醚
钨
显微镜
扫描电子显微镜
兴奋剂
扫描共焦电子显微镜
电荷(物理)
电子显微镜
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化学
光学
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硒
生物化学
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期刊:ACS Nano 作者:Djordje Došenović; Samuel Dechamps; Kshipra Sharma; Jean‐Luc Rouvière; Yong Lu; et al 出版日期:2024-08-15 |
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