| 标题 |
 Positive-Sample-Based Surface Defect Detection Using Memory-Augmented Adversarial Autoencoders 基于正样本的记忆增强对抗性自动编码器表面缺陷检测
相关领域
计算机科学
人工智能
自编码
模式识别（心理学）
稳健性（进化）
生产线
水准点（测量）
样品（材料）
机器学习
深度学习
工程类
大地测量学
基因
机械工程
化学
生物化学
色谱法
地理
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| 网址 | |
| DOI |
10.1109/tmech.2021.3058147
doi
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| 其它 |
期刊：IEEE-ASME Transactions on Mechatronics 作者：Tongzhi Niu; Bin Li; Weifeng Liu; Yuanhong Qiu; Shuanlong Niu 出版日期：2022-02-01 |
| 求助人 | |
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