Dielectric breakdown of oxide films in electronic devices

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标题	Dielectric breakdown of oxide films in electronic devices 电子器件中氧化膜的介电击穿相关领域电容器材料科学电介质可靠性（半导体）绝缘体（电）光电子学介电强度电气故障工程物理电气工程电压工程类热力学物理功率（物理）
网址	https://doi.org/10.1038/s41578-024-00702-0
DOI	10.1038/s41578-024-00702-0 doi
其它	期刊：Nature Reviews Materials 作者：Andrea Padovani; Paolo La Torraca; Jack Strand; Luca Larcher; Alexander L. Shluger 出版日期：2024-08-07
求助人	支盼夏在 2025-05-18 19:23:01 发布自安徽，悬赏 10 积分
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