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Atomic layer etching of ZrO2 thin films for DRAM capacitors using NF3 plasma and TiCl4 相关领域
材料科学
德拉姆
电容器
蚀刻(微加工)
等离子体
原子层沉积
图层(电子)
光电子学
等离子体刻蚀
反应离子刻蚀
纳米技术
电气工程
电压
物理
量子力学
工程类
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期刊:Ceramics International 作者:Heqing Yang; Hyeongjun Kim; S.-B. Jo; Woongkyu Lee 出版日期:2025-04-23 |
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