| 标题 |
Thickness dependence of spin Seebeck resistivity in polycrystalline YIG films grown by metal organic decomposition method 相关领域
材料科学
钇铁石榴石
旋涂
电阻率和电导率
薄膜
塞贝克系数
凝聚态物理
钆镓石榴石
大气温度范围
外延
光电子学
复合材料
纳米技术
热导率
电气工程
工程类
物理
图层(电子)
气象学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Current Applied Physics 作者:Phuoc Cao Van; Thi Trinh Nguyen; Viet Duc Duong; Nguyễn Minh Hiếu; Ji-Hwan Seol; et al 出版日期:2022-08-08 |
| 求助人 | |
| 下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|