| 标题 |
Arc-shaped slit effect of EUV lithography with anamorphic high-NA system in terms of critical dimension variation |
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| DOI |
10.1117/12.2258188
doi
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| 其它 |
期刊:SPIE Proceedings 作者:In-Seon Kim; Guk-Jin Kim; Michael Yeung; Eytan Barouch; Hye-Keun Oh 出版日期:2017-03-24 |
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