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  A Wafer Surface Defect Detection Method Built on Generic Object Detection Network 相关领域
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| DOI |
10.2139/ssrn.4027241
doi
提醒：求助人提供的doi与AI识别不一致
10.1016/j.dsp.2022.103718
Doi
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| 其它 |
期刊：SSRN Electronic Journal 作者：Sanxin Jiang; Xinyu Wang; Xiaoli Jia; Chuyi Jiang 出版日期：2022-02-17 |
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