| 标题 |
Study of thin layer materials presenting interfaces using white light interference measurements |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Optics & Laser Technology 作者:R. Meyer; F. Stock; C. Cordier; J. Schiffler; P. Montgomery; et al 出版日期:2025-06-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人或该文件上传人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)