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Investigation of trapping dynamics and defect evolution in 150 nm GaN-on-SiC HEMTs under early X-band RF stress |
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期刊:Journal of Semiconductors 作者:El Mehdi Meknassi; Niemat Moultif; Sebastien Duguay; Benoit Lambert; Gabriel Bertao; et al 出版日期:2026-05-01 |
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(2025-6-4)