| 标题 |
 Accelerated testing of SiO/sub 2/ reliability SiO/sub 2/可靠性加速试验
相关领域
击穿电压
材料科学
可靠性（半导体）
电压
电气故障
电场
随时间变化的栅氧化层击穿
试验方法
电击穿
电气工程
电子工程
机械
工程类
栅氧化层
物理
功率（物理）
热力学
数学
晶体管
统计
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Elyse Rosenbaum; J.C. King; Chenming Hu 出版日期：1996-01-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
浮游
无极微光
小青椒
eric888
8R60d8
蚊蚊爱读书
好运偏爱的那个男的
yznfly
BareBear
pluto
Zx_1993
且慢
子车茗
不安青牛
嘻嘻哈哈
Frank
不配.
东方元语
毛毛的家长
昏睡的蟠桃
GingerF
Mic
LYSM
Zhou
皖公网安备34019202002308
