| 标题 |
 Mechanical atomic-scale defects enable stable Ni-rich single-crystal cathodes 相关领域
材料科学
阴极
压延
电极
复合材料
透射电子显微镜
电化学
极限抗拉强度
机制（生物学）
纳米技术
变形（气象学）
尼蒙
拉伤
扫描电子显微镜
纳米尺度
光电子学
开裂
成核
扫描透射电子显微镜
拉伸应变
变形机理
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Joule 作者：Simon Danitz; Haichuan Zhang; Suyue Yuan; Ritwick Sinha; Jiahong Jiang; et al 出版日期：2026-10-06 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人或该文件上传人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
无极微光
嘻嘻哈哈
潇洒的惋清
DW
平常迎天
秋风
林狗
朴素的鼠标
GingerF
极限001
aaaa
sagitar
arniu2008
lalala
陈冠希
YifanWang
牧云萧然
xing_xing
元谷雪
OK
皖公网安备34019202002308
