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Ferroelectric HfO2 Memory Transistors With High-κ Interfacial Layer and Write Endurance Exceeding 1010 Cycles |
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:A. Tan; Yu-Hung Liao; Li-Chen Wang; N. Shanker; Jong-Ho Bae; et al 出版日期:2021-05-25 |
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(2025-6-4)