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  Mapping the impact of defect distributions in silicon carbide devices using the edge transient-current technique 用边缘瞬态电流技术绘制碳化硅器件中缺陷分布的影响
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Christian Dorfer; Marianne Etzelmüller Bathen; Salvatore Race; Piyush Kumar; Alexander Tsibizov; et al 出版日期：2023-05-01 |
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