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 An Adaptive Feature Refinement Network for Pixel-level Segmentation of Surface Defect 一种用于表面缺陷像素级分割的自适应特征细化网络
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期刊：Measurement Science and Technology 作者：Yuzhong Zhang; Weizhen Ge; Shiyang Liu; Jiazheng Wang; Haibing Hu; et al 出版日期：2024-12-10 |
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