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 Simulation Study of Self-Heating and Edge Effects on Oxide-Semiconductor TFTs: Channel-Width Dependence 氧化物半导体薄膜晶体管自加热和边缘效应的模拟研究：沟道宽度依赖性
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期刊：Proceedings of the International Display Workshops 作者：Katsumi Abe; K. Ota; Takeshi Kuwagaki 出版日期：2019-11-29 |
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