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 Incremental learning strategies for improved detection of unknown defects in wafer maps with limited samples 相关领域
遗忘
薄脆饼
人工智能
半导体器件制造
渐进式学习
过程（计算）
可靠性（半导体）
计算机科学
机器学习
航程（航空）
模式识别（心理学）
深度学习
工程类
晶圆制造
可靠性工程
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灵敏度（控制系统）
灾难性故障
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期刊：Computers in Industry 作者：Tianming Ni; Jiang Wen; Huaguo Liang; Xiaoqing Wen; Mu Nie 出版日期：2026-01-05 |
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