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 Unexpectedly High Minority‐Carrier Lifetimes Exceeding 20 ms Measured on 1.4‐Ω cmn‐Type Silicon Wafers 在1.4-Ω CMN型硅片上测得的超过20 ms的意外高少数载流子寿命
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期刊：physica status solidi (RRL) - Rapid Research Letters 作者：Boris Veith‐Wolf; Jan Schmidt 出版日期：2017-09-20 |
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