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Active Probe Atomic Force Microscopy with Quattro-Parallel Cantilever Arrays for High-Throughput Large-Scale Sample Inspection 用于高通量大规模样品检测的四平行悬臂阵列主动探针原子力显微镜
相关领域
悬臂梁
高定向热解石墨
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材料科学
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期刊:Journal of Visualized Experiments 作者:Fangzhou Xia; Kamal Youcef‐Toumi; Thomas Sattel; Eberhard Manske; Ivo W. Rangelow 出版日期:2023-06-13 |
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