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Etching of Silicon Nitride in CCl2F2, CHF3, SiF4, and SF6 Reactive Plasma: A Comparative Study CCl2F2、CHF3、SiF4和SF6反应等离子体蚀刻氮化硅的比较研究
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期刊:Plasma Chemistry and Plasma Processing 作者:B. D. Pant; U. S. Tandon 出版日期:1999-12-01 |
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