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[高分]
Inversion of Multi-Layer Structure Parameters Based on an Electromagnetic/Capacitive Dual-Mode Sensor 基于电磁/电容双模传感器的多层结构参数反演
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期刊:Insight - Non-Destructive Testing and Condition Monitoring 作者:Wei Wang; Dixiang Chen; Mengchun Pan; Wugang Tian; Yuan Ren 出版日期:2019-06-01 |
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