| 标题 |
 Correlation of the V/sub T/ drift in a-Si:H TFT to the optically observed flicker increase in AMLCD 相关领域
薄膜晶体管
闪烁
材料科学
阈值电压
光电子学
电压
晶体管
电气工程
工程类
图层（电子）
复合材料
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期刊： 作者：Chung‐Che Huang; J.H. Constable; Beth Yost; Raymond G. Greene 出版日期：2003-12-22 |
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