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  On the CET-Map Ill-Posed Inversion Problem: Theory and Application to GaN HEMTs CET-Map病态反演问题：理论及其在GaN HEMTs中的应用
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Nicola Modolo; Carlo De Santi; G. Baratella; Andrea Minetto; Luca Sayadi; et al 出版日期：2023-06-30 |
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