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In vacuo growth studies of Ru thin films on Si, SiN, and SiO2 by high-sensitivity low energy ion scattering |
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:R. Coloma Ribera; R. W. E. van de Kruijs; J. M. Sturm; A. E. Yakshin; F. Bijkerk 出版日期:2016-08-12 |
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