| 标题 |
Reverse Recovery Enhanced and Single-Event Effects Hardened Power Schottky Source MOSFET With Integrated Retrograde p-Well Schottky Contact Super Barrier Rectifier |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Qisheng Yu; Wensuo Chen; Aohang Zhang; Jiaweiwen Huang 出版日期:2024-03-26 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)