| 标题 |
Si / Si O 2 MOSFET reliability physics: From four-state model to all-state model |
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| DOI |
10.1103/4916-smn3
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| 其它 |
期刊:Physical Review Applied 作者:Xinjing Guo; Menglin Huang; Shiyou Chen 出版日期:2025-10-14 |
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(2025-6-4)