| 标题 |
Effect of Wafer Off‐Angles on Defect Formation in Drift Layers Grown on Free‐Standing GaN Substrates |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:physica status solidi (b) 作者:Kenji Shiojima; Fumimasa Horikiri; Yoshinobu Narita; Takehiro Yoshida; Tomoyoshi Mishima 出版日期:2019-11-27 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)