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[高分]
A feasible approach to understand acid diffusion in DUV resist using open frame exposure |
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| DOI |
10.1117/12.3091343
doi
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| 其它 |
期刊:Ninth International Workshop on Advanced Patterning Solutions (IWAPS 2025) 作者:Ruiwen Ai; Liang Xu; Xingang Pan 出版日期:2025-12-03 |
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(2025-6-4)