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Photoresist Latent and Developer Images as Probed by Neutron Reflectivity Methods |
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期刊:Advanced Materials 作者:Vivek M. Prabhu; Shuhui Kang; David L. VanderHart; Sushil K. Satija; Eric K. Lin; et al 出版日期:2010-09-16 |
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(2025-6-4)