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![]() 用压痕法测定MOSFET沟道的压阻特性
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:S. Schlipf; André Clausner; Paul Jarman; Simone Capecchi; Laura Wambera; et al 出版日期:2021-02-25 |
求助人 |
清秀玉兰
在
2025-08-30 14:05:34 发布,悬赏 10 积分
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