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专利、报告等 method for measuring dc bias aging characteristics of multilayer capacitor
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| 网址 |
求助人暂未提供
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| DOI |
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| 其它 |
这件专利的发明人是 Dong Seuk Kim、Geon Yong Lee、Myung Duk Seo、DongHwi Shin(中文公开文本译作金东锡、李健镛、徐明德、申东辉)，申请人是三星电 机。19 项权利要求，20 张附图，CPC 归在 G01R 31/64(电容器测试)；美国公开文本 US 2025/0044375 A1，2025 年2月 6日公开:中国同族CN119438740A，2025年2月14 日公开，申请号CN202410622532.2。 |
| 求助人 | |
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(2025-6-4)
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皖公网安备34019202002308
