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Disturb and its Mitigation in Ferroelectric Field-Effect Transistors With Large Memory Window for NAND Flash Applications 相关领域
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Prasanna Venkatesan; Chinsung Park; Taeyoung Song; Lance Fernandes; Dipjyoti Das; et al 出版日期:2024-09-25 |
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